Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2008.02.01. - М. : Стандартинформ, 2007. - 8 с Изм.1 (ИУС 2-2011)
Рубрики: Системы измерений Микроскопы измерительные Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |