Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа [Текст] : стандарт. - Введ. с 2010. - М. : Стандартинформ, 2010. - 12 с. -
Рубрики: Системы измерений Микроскопы сканирующие Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |