Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 621.38/М 545 Заглавие : Методы измерения параметров полупроводниковых приборов : пер.с англ. Выходные данные : М.: Оборонгиз, 1961 Колич.характеристики :263 с. Примечания : Библиогр. в конце глав Цена : Б.ц. ГРНТИ : 45.29 УДК : 621.317:621.382 Предметные рубрики: Полупроводниковые приборы Экземпляры :ХР(1) Свободны : ХР(1) Держатели документа: Республиканская научно-техническая библиотека Казахстана