Айриг, Сибил. Сканирование - профессиональный подход. Углубленное рассмотрение процесса сканирования для получения результатов высочайшего качества [Текст] : пер.с англ. / С. Айриг, Э. Айриг. - Минск : Попурри, 1997. - 169 c. - ISBN 985-438-037-8 : 400 тг.
Доп.точки доступа: Айриг, Эмиль Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |