П 78 Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах [Текст] : сборник. - М. : Наука, 1995. - 165 с. : ил. - ISBN 5-02-000828-1 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): Микроскопия электронная -- Микроскопы электронные, труды Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |