Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 537/Б912/Б 91 Автор(ы) : Бургуэн, Жак Заглавие : Точечные дефекты в полупроводниках: Экспериментальные аспекты : Пер.с англ. Выходные данные : М.: Мир, 1985 Колич.характеристики :304 с.: ил Цена : Б.ц. ГРНТИ : 29.17.27 УДК : 537.311.322:548.4 Предметные рубрики: Полупроводники-- дефекты точечные Экземпляры : всего : ХР(2) Свободны : ХР(2)