Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Стандарты"- результаты поиска

Вид поиска
Тестовая библиотечная БД
БД "Электронный каталог РНТБ"
БД "Регистрационная картотека периодических изданий РНТБ"
БД "Стандарты"
БД "Диссертации"
БД "Нормативно-техническая документация"
БД "Промышленные каталоги"
БД "Генеральный сводный каталог РНТБ и филиалов"
БД "Полнотекстовые ресурсы удаленного доступа"
БД "Нормативно-технические документы РНТБ и филиалов. Сводный каталог"
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:БД "Нормативно-техническая документация" (1)БД "Нормативно-технические документы РНТБ и филиалов. Сводный каталог" (15)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>U=531.711<.>
Общее количество найденных документов : 28
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-28 
1.

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. - 2010
2.

Государственная система обеспечения единства измерений.Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра. - 2010
3.

Государственная система обеспечения единства измерений.Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. - 2010
4.

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки. - 2008
5.

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки. - 2008
6.

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки. - 2008
7.

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления. - 2010
8.

Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления. - 2010
9.

Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки. - 2010
10.

Государственная система обеспечения единства измерений. Преобразователи индуктивные прецизионные для измерения линейных размеров (параметров). - 2011
 1-10    11-20   21-28 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)