Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Стандарты"- результаты поиска

Вид поиска
Тестовая библиотечная БД
БД "Электронный каталог РНТБ"
БД "Регистрационная картотека периодических изданий РНТБ"
БД "Стандарты"
БД "Диссертации"
БД "Нормативно-техническая документация"
БД "Промышленные каталоги"
БД "Генеральный сводный каталог РНТБ и филиалов"
БД "Полнотекстовые ресурсы удаленного доступа"
БД "Нормативно-технические документы РНТБ и филиалов. Сводный каталог"
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:БД "Нормативно-техническая документация" (1)БД "Нормативно-технические документы РНТБ и филиалов. Сводный каталог" (15)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>U=531.711<.>
Общее количество найденных документов : 28
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-28 
1.

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки. - 2007
2.

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры длины концевые плоскопараллельные образцовые 1 и 2 разрядов и рабочие классов точности 00 и 0 длиной до 1000 мм. Методы и средства поверки. - 1980
3.

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры длины штриховые образцовые 2-го разряда и рабочие класса точности 5. Методика поверки. - 1985
4.

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры длины штриховые эталонные 1-го разряда (образцовые) и рабочие класса точности 0 до 1 м. Методика проверки. - 1997
5.

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления. - 2007
6.

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления. - 2010
7.

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки. - 2008
8.

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки. - 2007
9.

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки. - 2010
10.

Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа. - 2010
 1-10    11-20   21-28 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)