Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


БД "Стандарты"- результаты поиска

Вид поиска
Тестовая библиотечная БД
БД "Электронный каталог РНТБ"
БД "Регистрационная картотека периодических изданий РНТБ"
БД "Стандарты"
БД "Диссертации"
БД "Нормативно-техническая документация"
БД "Промышленные каталоги"
БД "Генеральный сводный каталог РНТБ и филиалов"
БД "Полнотекстовые ресурсы удаленного доступа"
БД "Нормативно-технические документы РНТБ и филиалов. Сводный каталог"
Область поиска
 Найдено в других БД:БД "Нормативно-технические документы РНТБ и филиалов. Сводный каталог" (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>S=Микроскопы сканирующие<.>
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
ГОСТ Р 8.635-2007

   
    Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2008.08.01. - М. : Стандартинформ, 2008. - 8 с. -
УДК
531.711
РУБ КГС Т88.1 + ОКС 17.040.01
Рубрики: Микроскопы сканирующие

Экземпляры всего: 1
СВ (1)
Свободны: СВ (1)
Найти похожие
2.
ГОСТ 8.593-2009

   
    Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2010.11.01. - М. : Стандартинформ, 2010. - 7 с. -
УДК
531.711
РУБ МКС 17.040.01 + КГС Т88.1
Рубрики: Микроскопы сканирующие

Полный текст/внешний ресурс   (постраничный просмотр) : ГОСТ 8.593-2009.pdf или скачать 
Держатели документа:
11
Экземпляры всего: 1
СВ (1)
Свободны: СВ (1)
Найти похожие
3.
ГОСТ Р 8.700-2010

   
    Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа [Текст] : стандарт. - Введ. с 2010. - М. : Стандартинформ, 2010. - 12 с. -
УДК
531.711
РУБ КГС Т86.1 + ОКС 17.040.01
Рубрики: Системы измерений
   Микроскопы сканирующие

Экземпляры всего: 1
СВ (1)
Свободны: СВ (1)
Найти похожие
4.
СТ РК ГОСТ Р 8.635-2010

   
    Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2011.07.01. - Астана : Госстандарт Республики Казахстан, 2010. - 28 с. -
УДК
531.711
РУБ МКС 17.020
Рубрики: Микроскопы сканирующие

Экземпляры всего: 1
СВ (1)
Свободны: СВ (1)
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)