Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2008.08.01. - М. : Стандартинформ, 2008. - 8 с. -
Рубрики: Микроскопы сканирующие Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2010.11.01. - М. : Стандартинформ, 2010. - 7 с. -
Рубрики: Микроскопы сканирующие Полный текст/внешний ресурс (постраничный просмотр) : ГОСТ 8.593-2009.pdf или скачать Держатели документа: 11 Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа [Текст] : стандарт. - Введ. с 2010. - М. : Стандартинформ, 2010. - 12 с. -
Рубрики: Системы измерений Микроскопы сканирующие Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2011.07.01. - Астана : Госстандарт Республики Казахстан, 2010. - 28 с. -
Рубрики: Микроскопы сканирующие Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |