Государственная система обеспечения единства измерений. Меры длины штриховые эталонные 1-го разряда (образцовые) и рабочие класса точности 0 до 1 м. Методика проверки [Текст] : стандарт. - Взамен ГОСТ 8.353-79 ; Введ. с 01.01.98. - Минск : Издательство стандартов, 1997. - 10 с. -
Рубрики: Меры длины штриховые Система обеспечения единства измерений Полный текст/внешний ресурс (постраничный просмотр) : ГОСТ 8.353-96.pdf или скачать Держатели документа: 11 Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Скобы с отчетным устройством. Технические условия [Текст] : стандарт. - Переизд. Окт. 1998 с Изм.1-4. - Взамен ГОСТ 11098-64 ; Введ. с 01.01.78. - М. : Издательство стандартов, 1998. - 8 с. -
Рубрики: Скобы измерительные Кл.слова (ненормированные): линейные измерения Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений.Лазеры измерительные.Методика поверки [Текст] : стандарт. - Введ. с 01.01.96. - М. : Издательство стандартов, 1995. - 10 с. -
Рубрики: Лазеры - Измерения Кл.слова (ненормированные): лазеры измерительные -- методика поверки -- непрерывное излучение -- безопасность Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Рулетки измерительные металлические. Технические условия [Текст] : стандарт. - Взамен ГОСТ 7502-89 ; Введ. с 01.07.2000. - М. : Издательство стандартов, 1999. - 7 с. -
Рубрики: Рулетки измерительные Кл.слова (ненормированные): эксплуатация -- испытание Полный текст/внешний ресурс (постраничный просмотр) : ГОСТ 7502-98.pdf или скачать Держатели документа: 11 Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Меры длины штриховые брусковые. Технические условия [Текст] : стандарт. - Взамен ГОСТ 12069-78 ; Введ. с 01.01.92. - М. : Издательство стандартов, 1990. - 12 с. -
Рубрики: Меры длины штриховые Полный текст/внешний ресурс (постраничный просмотр) : ГОСТ 12069-90.pdf или скачать Держатели документа: 11 Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Наборы принадлежностей к плоскопараллельным концевым мерам длины. Технические условия [Текст] : стандарт. - Переизд.Март 1996 с Изм.1-4. - Взамен ГОСТ 4119-66 ; Введ. с 01.01.78. - М. : Издательство стандартов, 1996. - 9 с. -
Рубрики: Меры длины концевые Кл.слова (ненормированные): размеры -- параметры Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Меры длины штриховые образцовые 2-го разряда и рабочие класса точности 5. Методика поверки [Текст] : стандарт. - Взамен ГОСТ 16216-70 ; Введ. с 01.07.86. - М. : Издательство стандартов, 1985. - 9 с. -
Рубрики: Меры длины - Поверка Полный текст/внешний ресурс (постраничный просмотр) : ГОСТ 8.528-85.pdf или скачать Держатели документа: 11 Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Скобы с отсчетным устройством. Методы и средства поверки [Текст] : стандарт. - Взамен ГОСТ 12397-66 ; Введ. с 01.07.80. - М. : Издательство стандартов, 1979. - 14 с. -
Рубрики: Скобы измерительные - Поверка Полный текст/внешний ресурс (постраничный просмотр) : ГОСТ 8.359-79.pdf или скачать Держатели документа: 11 Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Меры длины концевые плоскопараллельные образцовые 1 и 2 разрядов и рабочие классов точности 00 и 0 длиной до 1000 мм. Методы и средства поверки [Текст] : стандарт. - Взамен Инструкции 96-65 ; Введ. с 01.01.81. - М. : Издательство стандартов, 1980. - 66 с. -
Рубрики: Меры длины плоскопараллельные концевые - Поверка Полный текст/внешний ресурс (постраничный просмотр) : ГОСТ 8.367-79.pdf или скачать Держатели документа: 11 Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2008.02.01. - М. : Стандартинформ, 2007. - 8 с Изм.1 (ИУС 2-2011)
Рубрики: Микроскопы электронные Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2008.02.01. - М. : Стандартинформ, 2007. - 12 с Изм.1 (ИУС 2-2011)
Рубрики: Системы измерений Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2008.02.01. - М. : Стандартинформ, 2007. - 8 с Изм.1 (ИУС 2-2011)
Рубрики: Системы измерений Микроскопы измерительные Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления [Текст] : стандарт. - Введ. с 2008.02.01. - М. : Стандартинформ, 2007. - 6 с Изм.1 (ИУС 2-2011)
Рубрики: Системы измерений Поверочные схемы - Измерения Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2008.08.01. - М. : Стандартинформ, 2008. - 7 с. -
Рубрики: Микроскопы электронные Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2008.08.01. - М. : Стандартинформ, 2008. - 8 с. -
Рубрики: Микроскопы сканирующие Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки [Текст] : стандарт. - Введ. с 2009.06.01. - М. : Стандартинформ, 2008. - 14 с. -
Рубрики: Системы измерений Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые [Текст] : стандарт. - Введ. с 2010.11.01. - М. : Стандартинформ, 2010. - 8 с. -
Рубрики: Микроскопы электронные Полный текст/внешний ресурс (постраничный просмотр) : ГОСТ 8.594-2009.pdf или скачать Держатели документа: 11 Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений.Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра [Текст] : стандарт. - Введ. с 2010.09.01. - М. : Стандартинформ, 2010. - 12 с. -
Рубрики: Дифрактометры электронные Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений.Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа [Текст] : стандарт. - Введ. с 2010.09.01. - М. : Стандартинформ, 2010. - 11 с. -
Рубрики: Микроскопы электронные Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |
Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления [Текст] : стандарт. - Введ. с 2010.11.01. - М. : Стандартинформ, 2010. - 6 с. -
Рубрики: Метрологический надзор Полный текст/внешний ресурс (постраничный просмотр) : ГОСТ 8.592-2009.pdf или скачать Держатели документа: 11 Экземпляры всего: 1 СВ (1) Свободны: СВ (1) |