Поисковый запрос: <.>U=537.533.35<.> |
Общее количество найденных документов : 26
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах. - 1995
|
2.
| Валиев Р.З. Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии/Р.З.Валиев,А.Н.Вергазов,В.Ю.Герцман. - 1991
|
3.
| Дюков В.Г. Электронная микроскопия локальных потенциалов/В.Г.Дюков,С.А.Непийко,Н.Н.Седов; АН УССР,Ин-т физики. - 1991
|
4.
| Основы аналитической электронной микроскопии/Д.Е.Ньюбури, Дж.М.Каули, Д.Б.Вильямс и др.. - 1990
|
5.
| Микроанализ и растровая электронная микроскопия/Ж. Филибер, Ж. Фонтен, Э. Викарио; Ред. Ф. Морис. - 1985
|
6.
| Шабанова Т.А. Курс лекций по электронной микроскопии/Т.А. Шабанова, Р.М. Мансурова. - 2004
|
7.
| Синдо Д. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия/Д. Синдо, Т. Оикава. - 2006
|
8.
| Глазер В. Основы электронной оптики/В. Глазер. - 1957
|
9.
| Карупу В.Я. Электронная микроскопия/В. Я. Карупу. - 1984
|
10.
| Кулаков Ю.А. Электронная микроскопия/Ю. А. Кулаков. - 1981
|
|
|
|
Тестовая библиотечная БД
Стандартный
Главная
Описание