621.38/Г740

    Готра, З. Ю.
    Контроль качества и надежность микросхем [Текст] : учеб.для сред.спец.учеб.заведений / З.Ю. Готра, И.М. Николаев. - М. : Радио и связь, 1989. - 167 с. : ил. - Библиогр.:с.168(10 назв.). - ISBN 5-256-00257-0 : Б. ц.
ГРНТИ
47.33.31
УДК
621.382.049.77(07)
Рубрики: Интегральные схемы--надежность--учебники
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронные -- полупроводники -- электроника

Держатели документа:
Республиканская научно-техническая библиотека Казахстана
Западно-Казахстанский филиал РНТБ Казахстана

Доп.точки доступа:
Николаев, И.М.
Свободных экз. нет

   621.396/Г740

    Готра, З. Ю.
    Контроль качества и надежность микросхем [Текст] : учеб.для сред.спец.учеб.заведений / З.Ю.Готра, И.М.Николаев. - М. : Радио и связь, 1989. - 167 с. : ил. - Библиогр.:с.168(10 назв.). - ISBN 5-256-00257-0 : Б. ц.
ГРНТИ
47.33.31
УДК
621.396.6.049-192(07)
Рубрики: Интегральные схемы--надежность--учебники

Держатели документа:
Восточно-Казахстанский филиал РНТБ Казахстана

Доп.точки доступа:
Николаев, И.М.
Экземпляры всего: 2
05-ХР (1), АБ (1)
Свободны: 05-ХР (1), АБ (1)

   621.382/Г740

    Готра, З. Ю.
    Контроль качества и надежность микросхем [Текст] : учеб.для сред.спец.учеб.заведений / З.Ю. Готра, И.М.Николаев. - М. : Радио и связь, 1989. - 167 с. : ил. - Библиогр.:с.168(10 назв.). - ISBN 5-256-00257-0 : 0-35 р.
ГРНТИ
47.33.31
УДК
621.382.049.77.019.3(075.32)
Рубрики: Интегральные схемы--надежность--учебники
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронные -- полупроводники -- электроника

Держатели документа:
Карагандинский филиал РНТБ Казахстана

Доп.точки доступа:
Николаев, И.М.
Экземпляры всего: 1
08-ХР (1)
Свободны: 08-ХР (1)