Поисковый запрос: <.>K=Микроскопия<.> |
Общее количество найденных документов : 101
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
| П-1021/9549
П 78
Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах [Текст] : сборник. - М. : Наука, 1995. - 165 с. : ил. - ISBN 5-02-000828-1 : Б. ц. Рубрики: Электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
Микроскопия электронная -- Микроскопы электронные, труды
Экземпляры всего: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
2.
| 57/С 243
Световая микроскопия в биологии. Методы [Текст] : пер.с англ. / С.Дж.Брэдбери, П.Дж.Эвеннет, Р.В.Хоробин ; Под ред.А.Лейси. - М. : Мир, 1992. - 462 с. : ил. - Библиогр.в конце гл. - ISBN 5-03-002375-5 : Б. ц. Рубрики: Биология
Доп.точки доступа:
Брэдбери, С.Дж.; Лейси, А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
3.
| 620.1/К 787
Крауткремер, Йозеф .
Ультразвуковой контроль материалов [Текст] : справочник / Й. Крауткремер, Г. Крауткремер; Ред. В.Н. Волченко. - М. : Металлургия, 1991. - 752 с. : ил. - ISBN 5-229-00362-6 : Б. ц. Рубрики: Металлургия черных металлов--контроль
Кл.слова (ненормированные):
Звуковые волны -- Акустика -- Эхо-импульс -- Поглощение -- Искатели -- Ультразвуковая микроскопия -- Акустическая голография -- Ультразвуковой контроль -- Стандартизация
Доп.точки доступа:
Крауткремер, Герберт; Волченко, В.Н. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ЦСПВ (1)
Свободны: ЦСПВ (1)
Найти похожие
|
4.
| 537/В 155
Валиев, Р. З.
Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии [Текст] : монография / Р.З.Валиев, А.Н.Вергазов, В.Ю.Герцман ; АН СССР, Ин-т пробл.сверхпластичности металлов. - М. : Наука, 1991. - 230 с. : ил. - Библиогр.:с.221-225 (115 назв.). - ISBN 5-02-000195-3 : Б. ц. Рубрики: Электронная микроскопия
Кристаллография геометрическая
Доп.точки доступа:
Вергазов, А.Н.; Герцман, В.Ю.
Экземпляры всего: 2
ХР (2)
Свободны: ХР (2)
Найти похожие
|
5.
| 681.7/Л 171
Лазарев, Л. П.
Контроль геометрических и оптических параметров волокон [Текст] / Л.П. Лазарев. - М. : "Радио и связь", 1988. - 280 с. : ил. - ISBN 5-256-00005-5 : Б. ц. Рубрики: Волоконная оптика
Кл.слова (ненормированные):
фокусировка -- отражение -- голография -- микроскопия
Экземпляры всего: 3
ХР (3)
Свободны: ХР (3)
Найти похожие
|
6.
| 681.7/Д 957
Дюков, В. Г.
Растровая оптическая микроскопия [Текст] : монография / В.Г.Дюков. - М. : Наука. Гл.ред.физ.-мат.лит., 1992. - 206 c. : ил. - Библиогр.:с.203-207(131 назв.). - ISBN 5-02-014374-X : Б. ц. Рубрики: Приборы для измерения оптических свойств
Экземпляры всего: 4
ХР (4)
Свободны: ХР (4)
Найти похожие
|
7.
| 537/Д957
Д 95
Дюков, В. Г.
Электронная микроскопия локальных потенциалов [Текст] / В.Г.Дюков, С.А.Непийко, Н.Н.Седов; АН УССР,Ин-т физики. - Киев : Наук.думка, 1991. - 198 с. : ил. - Библиогр.: с.190-196(148 назв.). - ISBN 5-12-002339-8 : Б. ц. Рубрики: Магнитное поле
Доп.точки доступа:
Непийко, С.А.
Экземпляры всего: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
8.
| 537/О-753
Основы аналитической электронной микроскопии [Текст] / Д.Е.Ньюбури, Дж.М.Каули, Д.Б.Вильямс и др. ; Под ред.Дж.Дж.Грена. - М. : Металлургия, 1990. - 583 с. : ил. - Библиогр.:с.576-578(31 назв.). - ISBN 5-229-00375-5 : Б. ц. Рубрики: Электронная микроскопия
Доп.точки доступа:
Ньюбури, Д.Е.; Грен, Дж.Дж. \ред.\
Экземпляры всего: 2
ХР (2)
Свободны: ХР (2)
Найти похожие
|
9.
| 669.2/.8/В191
В 19
Васильева, Лилиана Анатольевна.
Электронная микроскопия в металловедении цветных металлов [Текст] : стандарт / Л.А. Васильева, Л.М. Малашенко, Р.Л. Тофпенец ; Под ред.С.А.Астапчика. - Минск : Наука и техника, 1989. - 206 с. : ил. - Библиогр.: с.205-07 (62 назв.) . - ISBN 5-343-00089-4 Рубрики: Цветные металлы--электронно-микроскопические исследования
Доп.точки доступа:
Малашенко, Лилия Михайловна; Тофпенец, Римма Лазаревна
Экземпляры всего: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
10.
| 543/М949
М 94
Мырзакожа, Дияс.
Современные методы исследования [Текст] : учеб.пособие / Д.А. Мырзакожа; М-во образования и науки РК ; Каз.головная архит.-строит.акад. - Алматы : КазГАСА, 2003. - 232 с. : ил. - Библиогр.: с. 231-232(37 назв.). - ISBN 9965-9242-0-1 : 115.00 тг. Рубрики: Технический анализ
Кл.слова (ненормированные):
Хроматография -- Масс-спектрометрия -- Спектроскопия -- Флуориметрия -- Рентген -- Микроскопия -- Электрохимия
Доп.точки доступа:
Мирзаходжаев, Асильбек Ашимович
Экземпляры всего: 1
ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Описание
Тестовая библиотечная БД
Стандартный