П 78 Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах [Текст] : сборник. - М. : Наука, 1995. - 165 с. : ил. - ISBN 5-02-000828-1 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): Микроскопия электронная -- Микроскопы электронные, труды Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Валиев, Р. З. Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии [Текст] : монография / Р.З.Валиев, А.Н.Вергазов, В.Ю.Герцман ; АН СССР, Ин-т пробл.сверхпластичности металлов. - М. : Наука, 1991. - 230 с. : ил. - Библиогр.:с.221-225 (115 назв.). - ISBN 5-02-000195-3 : Б. ц.
Кристаллография геометрическая Доп.точки доступа: Вергазов, А.Н.; Герцман, В.Ю. Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Основы аналитической электронной микроскопии [Текст] / Д.Е.Ньюбури, Дж.М.Каули, Д.Б.Вильямс и др. ; Под ред.Дж.Дж.Грена. - М. : Металлургия, 1990. - 583 с. : ил. - Библиогр.:с.576-578(31 назв.). - ISBN 5-229-00375-5 : Б. ц.
Доп.точки доступа: Ньюбури, Д.Е.; Грен, Дж.Дж. \ред.\ Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Микроанализ и растровая электронная микроскопия [Текст] : пер.с фр. / Ж. Филибер, Ж. Фонтен, Э. Викарио; Ред. Ф. Морис. - М. : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. - Библиогр.: с.10 (13 назв.) . - Б. ц.
Доп.точки доступа: Филибер, Ж.; Фонтен, Ж.; Викарио, Э.; Морис, Ф. \ред.\ Экземпляры всего: 3 ХР (3) Свободны: ХР (3) |
С 19 Сапарин, Г. В. Введение в растровую электронную микроскопию [Текст] / Г. В. Сапарин ; МГУ им.М.В.Ломоносова,Физ.фак. - М. : Изд-во МГУ, 1988. - 90 с. : ил. - (Физика). - Библиогр.: с. 89 (10 назв.). - ISBN 5-211-00625-9 : Б. ц.
Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ш 12 Шабанова, Татьяна Алексеевна. Электрондық микроскопия [Текст] : оқу құралы / Т. А. Шабанова, Г. Қ. Тәжкенова, Р. М. Мансұрова ; Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық ун-ті. - Алматы : Қазақ ун-тi, 2004. - 61 б. : ил. - Библиогр.: с. 63 (6 назв.). - ISBN 9965-12-665-8 : 330.43 тг.
Доп.точки доступа: Тәжкенова, Гаућар Қарғабайқызы; Мансұрова, Раушан Мағзұмқызы Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
С 71 Спенс, Д. Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения [Текст] : пер.с англ. / Под ред.В.Н.Рожанского. - М. : Наука, 1986. - 319 с. : ил. - Библиогр.: с. 313-320. - Б. ц.
Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Э 45 Электронная микроскопия [Текст] : монография / Под ред.акад. А.А.Лебедева. - М. : Гостехиздат, 1954. - 636 с. : ил. - Б. ц.
Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Э 45 Электронная промышленность за рубежом [Текст] : сборник / Сост. Ю.Н.Карпов, Вступ.ст. Ю.А.Савинова. - М. : Прогресс, 1988. - 460 с. : ил. - Б. ц.
Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
А 92 Атлас ультраструктуры древесных полуфабрикатов применяемых для производства бумаги [Текст] : атлас / З. Е. Брянцева и др.; Под ред. : Н. П. Зотовой-Спановской ; ЦНИИ бумаги . - М. : Лес.пром-сть, 1984. - 232 с : ил. - Библиогр.: с.226-231 (171 назв.) . - Б. ц.
Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Брянцева, З.Е.; Зотовой-Спановской, Н.П. \ред.\; ЦНИИ бумаги Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
С 38 Синдо, Дайзуке. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] : пер.с англ. / Д. Синдо, Т. Оикава. - М. : Техносфера, 2006. - 249 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 5-94836-064-4 : 1110 тг.
Доп.точки доступа: Оикава, Тецуо Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
С 42 Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения [Текст] : учеб.пособие для вузов / М.М.Криштал [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 2410 тг.
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Кулаков, Ю. А. Электронная микроскопия [Текст] : монография / Ю. А. Кулаков. - М. : Знание, 1981. - 64 с. : ил. - (Техника : новое в жизни, науке, технике ; №3). - Библиогр. в конце кн. (6 назв.). - Б. ц.
Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия [Текст] : учебник / Я. С. Уманский [и др.]. - М. : Металлургия, 1982. - 631 с. : ил. - Библиогр.: с.628-631 . - Б. ц.
Доп.точки доступа: Уманский, Я.С. Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Практические методы в электронной микроскопии [Текст] : пер.с англ. / П. Дж. Гудхью [и др.]; ред. О. М. Глоэр. - Л. : Машиностроение.Ленингр.отд-ние, 1980. - 375 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Б. ц.
Доп.точки доступа: Гудхью, П.Дж.; Глоэр, О.М. \ред.\ Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Современная электронная микроскопия в исследовании вещества [Текст] : монография / Отв.ред.Б.Б.Звягин. - М. : Наука, 1982. - 278 с. : ил. - Библиогр.: с.276 (13 назв.) . - Б. ц.
Доп.точки доступа: Звягин, Б.Б. \ред.\ Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Эгертон, Рэй Ф.. Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию [Текст] : пер.с англ. / Р. Ф. Эгертон. - М. : Техносфера, 2010. - 300 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с.297-300 (38 назв.) . - ISBN 978-5-94836-254-0 : 3610 тг.
Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Томас, Г. Просвечивающая электронная микроскопия материалов [Текст] : пер.с англ. / Г. Томас, М. Дж. Гориндж. - М. : Наука, 1983. - 317 с. : ил. - Библиогр.: с.310-317 . - Б. ц.
Доп.точки доступа: Гориндж, М.Дж. Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Пилянкевич, А. Н. Просвечивающая электронная микроскопия [Текст] : монография / А. Н. Пилянкевич. - Киев : Наук.думка, 1975. - 219 с. : ил. - Библиогр.: с.209-217 (280 назв.) . - Б. ц.
Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Практическая растровая электронная микроскопия [Текст] : пер.с англ. / Дж. Гоулдстейн [и др.]; ред. Х. Яковиц. - М. : Мир, 1978. - 656 с. : ил. - Библиогр.: с.615-642. - Б. ц.
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж.; Яковиц, Х. \ред.\ Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |