Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение [Текст] : пер.с англ. / ред. У. Жу. - М. : Бином.Лаборатория знаний, 2013. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 8250 тг.
Доп.точки доступа: Жу, Уэйли \ред.\ Экземпляры всего: 1 ЧЗ (1) Свободны: ЧЗ (1) |