Лисойван, В. И. Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов [Текст] : монография / В.И. Лисойван, С.А. Громилов ; АН СССР, Сиб.отд-ние, Ин-т неорган.химии. - Новосибирск : Наука.Сиб.отд-ние, 1989. - 239 с. : ил. - Библиогр.: с. 224-240(313 назв.). - ISBN 5-02-028687-7 : Б. ц.
Доп.точки доступа: Громилов, С.А. Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Лисойван, В. И. Измерение параметров элементарной ячейки на однокристальном спектрометре [Текст] : монография / В. И. Лисойван ; ред. С. В. Борисов ; АН СССР, Сиб.отд-ние, Ин-т неогран.химии. - Новосибирск : Наука.Сиб.отд-ние, 1982. - 126 с. : ил. - Библиогр.: с.119-124 (127 назв.) . - Б. ц.
Доп.точки доступа: Борисов, С.В. \ред.\; АН СССР, Сиб.отд-ние, Ин-т неогран.химии Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Кривоглаз, М. А. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей и нейронов на флуктуационных неоднородностях в неидеальных кристаллах [Текст] : монография / М. А. Кривоглаз ; АН УССР. - Киев : Наук.думка, 1984. - 287 с. : ил. - Библиогр.: с.270-285 (717 назв.) . - Б. ц.
Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Францевич, И. Н. Методы дифракционной микрорентгенографии [Текст] : монография / И. Н. Францевич, В. А. Кравец ; АН УССР, Ин-т проблем материаловедения. - Киев : Наук.думка, 1977. - 67 с. : ил. - Библиогр.: с.60-67 (292 назв.) . - Б. ц.
Доп.точки доступа: Кравец, В.А.; АН УССР, Ин-т проблем материаловедения Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Метод оврагов в задачах рентгеноструктурного анализа [Текст] : монография / И. М. Гельфанд ; АН СССР. - М. : Наука, 1966. - 79 с. - Библиогр.: с.78 (25 назв.) . - Б. ц.
Доп.точки доступа: Гельфанд, И.М.; АН СССР Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |