С 42 Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения [Текст] : учеб.пособие для вузов / М.М.Криштал [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-200-7 : 2410 тг.
Доп.точки доступа: Криштал, Михаил Михайлович Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |