П 78 Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах [Текст] : сборник. - М. : Наука, 1995. - 165 с. : ил. - ISBN 5-02-000828-1 : Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): Микроскопия электронная -- Микроскопы электронные, труды Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Д 95 Дюков, В. Г. Электронная микроскопия локальных потенциалов [Текст] / В.Г.Дюков, С.А.Непийко, Н.Н.Седов; АН УССР,Ин-т физики. - Киев : Наук.думка, 1991. - 198 с. : ил. - Библиогр.: с.190-196(148 назв.). - ISBN 5-12-002339-8 : Б. ц.
Доп.точки доступа: Непийко, С.А. Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Ш 12 Шабанова, Татьяна Алексеевна. Электрондық микроскопия [Текст] : оқу құралы / Т. А. Шабанова, Г. Қ. Тәжкенова, Р. М. Мансұрова ; Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық ун-ті. - Алматы : Қазақ ун-тi, 2004. - 61 б. : ил. - Библиогр.: с. 63 (6 назв.). - ISBN 9965-12-665-8 : 330.43 тг.
Доп.точки доступа: Тәжкенова, Гаућар Қарғабайқызы; Мансұрова, Раушан Мағзұмқызы Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Э 45 Электронная микроскопия [Текст] : монография / Под ред.акад. А.А.Лебедева. - М. : Гостехиздат, 1954. - 636 с. : ил. - Б. ц.
Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
С 38 Синдо, Дайзуке. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] : пер.с англ. / Д. Синдо, Т. Оикава. - М. : Техносфера, 2006. - 249 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 5-94836-064-4 : 1110 тг.
Доп.точки доступа: Оикава, Тецуо Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Гайер, Г. Электронная гистохимия [Текст] : монография; пер.с нем. / Г. Гайер. - М. : Мир, 1974. - 488 с.с черт. - Библиогр.: с.362-474 (2325 назв.) . - Б. ц.
Гистохимические исследования Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Мюллер, Э. В. Полевая ионная микроскопия, полевая ионизация и полевое испарение [Текст] : пер.с англ. / Э. В. Мюллер, Т. Ц. Тьен. - М. : Наука, 1980. - 220 с. : ил. - Библиогр.: с.199-211 . - Б. ц.
Доп.точки доступа: Тьен, Т.Ц. Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Практические методы в электронной микроскопии [Текст] : пер.с англ. / П. Дж. Гудхью [и др.]; ред. О. М. Глоэр. - Л. : Машиностроение.Ленингр.отд-ние, 1980. - 375 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Б. ц.
Доп.точки доступа: Гудхью, П.Дж.; Глоэр, О.М. \ред.\ Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Современная электронная микроскопия в исследовании вещества [Текст] : монография / Отв.ред.Б.Б.Звягин. - М. : Наука, 1982. - 278 с. : ил. - Библиогр.: с.276 (13 назв.) . - Б. ц.
Доп.точки доступа: Звягин, Б.Б. \ред.\ Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Эгертон, Рэй Ф.. Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию [Текст] : пер.с англ. / Р. Ф. Эгертон. - М. : Техносфера, 2010. - 300 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с.297-300 (38 назв.) . - ISBN 978-5-94836-254-0 : 3610 тг.
Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Томас, Г. Просвечивающая электронная микроскопия материалов [Текст] : пер.с англ. / Г. Томас, М. Дж. Гориндж. - М. : Наука, 1983. - 317 с. : ил. - Библиогр.: с.310-317 . - Б. ц.
Доп.точки доступа: Гориндж, М.Дж. Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Пилянкевич, А. Н. Просвечивающая электронная микроскопия [Текст] : монография / А. Н. Пилянкевич. - Киев : Наук.думка, 1975. - 219 с. : ил. - Библиогр.: с.209-217 (280 назв.) . - Б. ц.
Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Пилянкевич, А. Н. Электронные микроскопы [Текст] : монография / А. Н. Пилянкевич, А. М. Климовицкий. - Киев : Технiка, 1976. - 165 с. : ил. - Библиогр.: с.163 (13 назв.) . - Б. ц.
Доп.точки доступа: Климовицкий, А.М. Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Практическая растровая электронная микроскопия [Текст] : пер.с англ. / Дж. Гоулдстейн [и др.]; ред. Х. Яковиц. - М. : Мир, 1978. - 656 с. : ил. - Библиогр.: с.615-642. - Б. ц.
Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж.; Яковиц, Х. \ред.\ Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский анализ [Текст] : в 2-х кн.; пер.с англ. / Дж.Гоулдстейн [и др.]. - М. : Мир, 1984 - . 1. - 303 с. : ил. - Б. ц.
Рентгеноспектральный анализ Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский анализ [Текст] : в 2-х кн.; пер.с англ. / Дж.Гоулдстейн [и др.]. - М. : Мир, 1984 - . 2. - 351 с. : ил. - Библиогр.: с.318-341 . - Б. ц.
Рентгеноспектральный анализ Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Дж. Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Деркач, В. П. Электроннозондовые устройства [Текст] : монография / В. П. Деркач, Г. Ф. Кияшко, М. С. Кухарчук ; АН УССР. Ин-т кибернетики. - Киев : Наук.думка, 1974. - 267 с. : ил. - Библиогр.: с.251-266 (701 назв.). - Б. ц.
Доп.точки доступа: Кияшко, Г.Ф.; Кухарчук, М.С.; АН УССР. Ин-т кибернетики Экземпляры всего: 1 ХР (1) Свободны: ХР (1) |
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение [Текст] : пер.с англ. / ред. У. Жу. - М. : Бином.Лаборатория знаний, 2013. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9963-1110-1 : 8250 тг.
Доп.точки доступа: Жу, Уэйли \ред.\ Экземпляры всего: 1 ЧЗ (1) Свободны: ЧЗ (1) |
Мюллер, Э. В. Автоионная микроскопия. Принципы и применение [Текст] : пер.с англ. / Э. В. Мюллер, Т. Ц. Цонь. - М. : Металлургия, 1972. - 360 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Б. ц.
Доп.точки доступа: Цонь, Т.Ц. Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |
Хокс, П. Электронная оптика и электронная микроскопия [Текст] : пер.с англ. / П. Хокс. - М. : Мир, 1974. - 319 с. : ил. - Библиогр.: с.296-299 (87 назв.). - Б. ц.
Электронная микроскопия Экземпляры всего: 2 ХР (2) Свободны: ХР (2) |