Поисковый запрос: <.>A=Левин, Г. Г.$<.> |
Общее количество найденных документов : 15
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Вишняков Г.Н. Государственный первичный эталон единицы угла вращения плоскости поляризации./Г. Н. Вишняков, В. М. Лахов, Г. Г. Левин // Измерительная техника . -М., 2010,N №3.-С.3-7
|
2.
| Бурлаков И.Д. Измерение интенсивности генерации второй оптической гармоники в гетероэпитаксиальных структурах теллурида кадмия - ртути./И. Д. Бурлаков, А. В. Демин, Г. Г. Левин // Измерительная техника. -М., 2010,N №6.-С.15-17
|
3.
| Левин Г.Г. Количественная фазовая микроскопия на основе принципов интерференционной рефрактометрии./Г.Г. Левин, С.Ю. Золоторевский // Метрология. -М., 2008,N №3.-С.15-21
|
4.
| Вишняков Г.Н. Методы автоматизации обработки интерферограмм фазовых обьектов./Г.Н. Вишняков, С.Ю. Золоторевский, А.Г. Ломакин, Г.Г. Левин // Метрология. -М., 2008,N №4.-С.15-25
|
5.
| Чумаченко Е.Н. Моделирование механических свойств костных тканей челюсти и расчет напряженно - деформированного состояния зубочелюстных систем с искусственными включениями./Е. Н. Чумаченко, Г. Г. Левин, А. И. Воложин // Измерительная техника. -М., 2010,N №2.-С.58-61
|
6.
| Илюшин Я.А. Моделирование процессов рассеяния оптического излучения нанообъектами с конечными диэлектрической проницаемостью и проводимостью./Я. А. Илюшин , Г. Г. Левин, С. Ю. Золоторевский // Метрология . -М., 2010,N №1.-С.10-22
|
7.
| Левин Г.Г. Моделирование процессов рассеяния оптического излучения наноразмерными структурами./Г. Г. Левин, Я. А. Илюшин, С. Ю. Золоторевский // Метрология. -М., 2009,N №12.-С.7-13
|
8.
| Левин Г.Г. Определение наноперемещений объекта по оптическому фазовому изображению./Г. Г. Левин, Я. А. Илюшин // Измерительная техника. -М., 2010,N №7.-С.38-42
|
9.
| Левин Г.Г. Оценка точности измерения сухой массы клетки на автоматизированном интерференционном микроскопе/Г.Г. Левин, А.А. Ковалев, В.Л. Минаев, К.А. Сухоруков // Измерительная техника. -М., 2004,N №4.-С.64-67
|
10.
| Левин Г.Г. Оценка точности измерения сухой массы клетки на автоматизированном интерференционном микроскопе/Г.Г. Левин, А.А. Ковалев, В.Л. Минаев, К.А. Сухоруков // Измерительная техника. -М., 2004,N №4.-С.64-67
|
|
|
|
Тестовая библиотечная БД
Стандартный
Главная
Описание
