Название библиотеки

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

Тестовая библиотечная БД

БД "Электронный каталог РНТБ"

БД "Регистрационная картотека периодических изданий РНТБ"

БД "Стандарты"

БД "Диссертации"

БД "Нормативно-техническая документация"

БД "Промышленные каталоги"

БД "Генеральный сводный каталог РНТБ и филиалов"

БД "Полнотекстовые ресурсы удаленного доступа"

БД "Нормативно-технические документы РНТБ и филиалов. Сводный каталог"

Область поиска

Найдено в других БД:

БД "Электронный каталог РНТБ" (2)

БД "Генеральный сводный каталог РНТБ и филиалов" (3)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: <.>K=нанометрология<.>

Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8

Измерение высоты ступени в нанометровом диапазоне с помощью лазерного микроинтерферометра [Текст] : материал технической информации / А.Н. Королев, В.И. Коротков, А.Я. Лукин, С.А. Пулькин, А.Л. Сизов // Измерительная техника. - 2005. - №4. - С. 29-33. - Библиогр.: 9 назв.
Рубрики: Измерения линейные и угловые
Кл.слова (ненормированные):
интерференция -- нанометрология -- мера высоты -- нанотехнологии

Держатели документа:
РНТБ

Доп.точки доступа:
Королев, А.Н.; Коротков, В.И.; Лукин, А.Я.; Пулькин, С.А.; Сизов, А.Л.

Найти похожие

Компьютерное моделирование средств измерений в нанометрологии [Текст] / А. В. Заблоцкий, А. С. Батурин [и др.] // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - № 8. - С. 2-6. - Библиогр.: 6 назв.
Рубрики: Нанометрология
Кл.слова (ненормированные):
метрология -- зондовый микроскоп

Держатели документа:
РНТБ

Доп.точки доступа:
Заблоцкий, А.В.; Батурин, А.С.; Шешин, Е.П.; Бормашов, В.С.; Нагирный, В.П.; Коростылев, Е.В.

Найти похожие

Измерение высоты ступени в нанометровом диапазоне с помощью лазерного микроинтерферометра [Текст] : материал технической информации / А.Н. Королев, В.И. Коротков, А.Я. Лукин, С.А. Пулькин, А.Л. Сизов // Измерительная техника. - 2005. - №4. - С. 29-33. - Библиогр.: 9 назв.
Рубрики: Измерения линейные и угловые
Кл.слова (ненормированные):
интерференция -- нанометрология -- мера высоты -- нанотехнологии -- лазер

Держатели документа:
РНТБ

Доп.точки доступа:
Королев, А.Н.; Коротков, В.И.; Лукин, А.Я.; Пулькин, С.А.; Сизов, А.Л.

Найти похожие

Крутиков, В. Н.
Метрологическое обеспечение ,стандартизация и оценка соответствия нанотехнологий и нанопродукции. [Текст] : материал технической информации / В.Н. Крутиков, Ю.М. Золотаревский, С.Е. Андрюшечкин // Метрология. - 2008. - № 2. - С. 5-23. - Библиогр.: 17 назв.
Рубрики: Измерения
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнология -- нанометрология -- система обеспечения единства измерений

Держатели документа:
РНТБ

Доп.точки доступа:
Золотаревский, Ю.М.; Андрюшечкин, С.Е.

Найти похожие

Тодуа, П. А.
Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. [Текст] : материал технической информации / П. А. Тодуа // Измерительная техника. - 2008. - № 5. - С. 5-10. - Библиогр.: 6 назв.
Рубрики: Измерения
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнология -- нанометрология -- стандартизация -- единство измерений

Держатели документа:
РНТБ

Найти похожие

Данилова, М. А.
Тест-объект с шириной линии менее 10 нм для растровой электронной микроскопии. [Текст] : материал технической информации / М. А. Данилова, В. Б. Митюхляев [и др.] // Измерительная техника. - 2008. - № 8. - С. 20-23. - Библиогр.: 17 назв.
Рубрики: нанометрология
Кл.слова (ненормированные):
растровый электронный микроскоп -- тест-объект -- ширина линии -- линейные размеры -- рельефные структуры

Держатели документа:
РНТБ

Доп.точки доступа:
Митюхляев, В.Б.; Новиков, Ю.А.; Озерин, Ю.В.; Раков, А.В.; Тодуа, П.А.

Найти похожие

Кайнер, Г. Б.
Новые методы и критерии оценки адгезионного взаимодействия и взаимного положения плоскопараллельных концевых мер длины и деталей в соединениях. [Текст] : материал технической информации / Г. Б. Кайнер // Измерительная техника. - 2011. - № 1. - С. 13-16. - Библиогр.: 3 назв.
Рубрики: нанометрология
Кл.слова (ненормированные):
адгезионное взаимодействие -- концевые меры длины -- площадь прилегания поверхностей -- допуски нанометрового диапазона -- конусное соединение

Держатели документа:
РНТБ

Найти похожие

Белозубов , Е. М.
Проектирование упругих элементов нано- и микроэлектромеханических систем. [Текст] : материал технической информации / Е. М. Белозубов , В. А. Васильев // Измерительная техника. - 2011. - № 1. - С. 17-19. - Библиогр.: 8 назв.
Рубрики: нанометрология
Кл.слова (ненормированные):
проектирование -- моделирование -- нано- и микроэлектромеханическая система -- упругий элемент -- мембрана с жестким центром -- тензоэлемент -- деформация

Держатели документа:
РНТБ

Доп.точки доступа:
Васильев, В.А.

Найти похожие

Тематический навигатор

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)