Web ИРБИС

Наноматериалы и их применение в производстве антимикробных материалов на волокнистых носителях [Текст] / Б. А Бузов [и др.] // Швейная промышленность. - 2007. - № 3. - С. 35-36 : рис. - Библиогр.: 1 назв.
Рубрики: Текстильная промышленность--нанотехнологии
Кл.слова (ненормированные):
нетканое полотно -- исследования -- атомно-силовой микроскоп -- микроорганизмы -- бактерии -- антигрибковые свойства -- определяемые показатели -- обработка эмульсией

Держатели документа:
Жамбыл

Доп.точки доступа:
Бузов, Б. А; Жихарев, А. П.; Мишаков, В. Ю.; Белгородский, В. С.; Баранов, В. Д.
Имеются экземпляры в отделах: всего 1
Свободны: 1

Новиков, Ю. А.
Прямое измерение ширины линии на атомно-силовом микроскопе. [Текст] : материал технической информации / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, П. А. Тодуа // Измерительная техника. - 2008. - № 5. - С. 10-12. - Библиогр.: 5 назв.
Рубрики: Измерения
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовой микроскоп -- ширина линии

Держатели документа:
РНТБ

Доп.точки доступа:
Раков, А.В.; Тодуа, П.А.

Раков, А. В.
Калибровка АСМ по трем координатам с использованием одного аттестованного размера. [Текст] : материал технической информации / А. В. Раков, Ю. А. Новиков, П. А. Тодуа // Измерительная техника. - 2008. - № 5. - С. 13-15. - Библиогр.: 11 назв.
Рубрики: Измерения
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовой микроскоп -- калибровка

Держатели документа:
РНТБ

Доп.точки доступа:
Новиков, Ю.А.; Тодуа, П.А.

Раков, А. В.
Измерение линейности сканирования в атомно-силовом микроскопе. [Текст] : материал технической информации / А. В. Раков, Ю. А. Новиков, П. А. Тодуа // Измерительная техника. - 2008. - № 6. - С. 12-14. - Библиогр.: 8 назв.
Рубрики: Измерения
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовой микроскоп -- сканирование

Держатели документа:
РНТБ

Доп.точки доступа:
Новиков, Ю.А.; Тодуа, П.А.

request_decrypt("<.>K=атомно-силовой микроскоп<.>","");