Вайбер, Р.     Эмпирические законы сетевой экономики [Текст] : материал технической информации / Р. Вайбер // Проблемы теории и практики управления. - 2003. - №3. - С. 86-91. Рубрики: Сетевая экономика--информационные технологии в экономике Кл.слова (ненормированные): компьютерная техника -- инновации -- Интернет -- цикл Кондратьева -- парадигма роста -- микроэлектроника -- телекоммуникации -- закон Хантли -- закон Меткальфа Держатели документа: Усть-Каменогорск Имеются экземпляры в отделах: всего 1 Свободны: 1

Проблемы обеспечения частотным ресурсом систем беспроводного доступа и устройств с малым радиусом действия [Текст] / И. О. Гурьянов, С. Ю. Пастух, В. Н. Поскакухин, Н. И. Харитонов // Электросвязь. - 2004. - №1. - С. 26-28. - Библиогр.: 5 назв. Рубрики: Радиочастотные ресурсы Кл.слова (ненормированные): полоса -- сигнализация -- микроэлектроника -- излучение -- спектр -- помеха -- мощность Держатели документа: Астана Доп.точки доступа: Гурьянов, И. О.; Пастух, С. Ю.; Поскакухин, В. Н.; Харитонов, Н. И. Имеются экземпляры в отделах: всего 1 Свободны: 1

Инновационные исследования в США: рост или падение? [Текст] // КОРИНФ. - 2005. - № 18 . - С. 10-11. Рубрики: Новые технологии    США Кл.слова (ненормированные): клонирование -- генная инженерия -- международная экономика -- микроэлектроника Держатели документа: Шымкент

Стенограмма Совещания Межфракционного депутатского объединения "Наука и высокие технологии" совместно с Комитетом по образованию и науке и Комитетом по промышленности, строительству и наукоемким технологиям на тему: "Состояние и перспективы развития полупроводниковой электроники в России". Здание Государственной Думы. Малый зал, 20 мая 2004 г. [Текст] / Ж. И. Алферов [и др.] // Экология - XXI век. - 2005. - Т. 5, № 1-2. - С. 88-119. : рис., табл. Рубрики: Состояние и перспективы развития полупроводниковой электроники--Россия Кл.слова (ненормированные): интегральные схемы -- кремниевые -- микроэлектроника -- рынок -- космическая промышленность -- финансирование -- зарубежный опыт Держатели документа: РНТБ Доп.точки доступа: Алферов, Ж.И.; Борисов, Ю.И.; Синельников, Б.М.; Козлов, Ю.Ф.; Лукьященко, В.И.; Асеев, А.Л.; Андреев, А.Ф.

Стенограмма Совещания Межфракционного депутатского объединения (МДО) "Наука и высокие технологии" совместно с Комитетом по образованию и науке, Комитетом по промышленности, строительству и наукоемким технологиям и Комитетом по энергетике, транспорту и связи на тему: "Нанотехнологии проблемы развития и подготовки кадров", Государственная Дума РФ, Москва. 26 октября 2004 г. [Текст] / В. И. Бабкин [и др.] // Экология - XXI век. - 2005. - Т. 5, № 3. - С. 6-38. Рубрики: Нанотехнологии Кл.слова (ненормированные): исследования -- разработки -- образование -- специалисты -- наноэлектроника -- микроэлектроника -- лазеры -- ядерная энергия -- реакторы -- частные предприятия -- молекулы ДНК -- наноматериалы -- наноалмазы Держатели документа: РНТБ Доп.точки доступа: Бабкин, В.И.; Иванов, В.К.; Асеев, А.Л.; Сурис, Р.А.; Чаплыгин, Ю.А.; Назаренко, В.А.; Быков, В.А.

Леденцов, Н. Н.     Перспективы развития электронной промышленности в России [Текст] : дополнительный доклад с Совещания на тему: "Нанотехнологии - проблемы развития и подготовки кадров" / Н. Н. Леденцов // Экология - XXI век. - 2005. - Т. 5, № 3. - С. 67-75. Рубрики: Электронная промышленность--перспективы развития--Россия Кл.слова (ненормированные): микроэлектроника -- подъем отрасли -- наука -- экономические аспекты -- менеджмент -- кадры -- экспертиза -- научные общества Держатели документа: РНТБ

Зеленцов, Ю. А.     Уровень технологии изготовления металлопленочных датчиков [Текст] : материал технической информации / Ю.А. Зеленцов, В.Ю. Зеленцов // Метрология. - 2007. - № 5. - С. 24-33. - Библиогр.: 11 назв. Рубрики: Измерения механические Кл.слова (ненормированные): тонкопленочная микроэлектроника -- тензочувствительная схема -- ультразвук -- микроэлектроника Держатели документа: РНТБ Доп.точки доступа: Зеленцов, В.Ю.

Богомольный , В. М.     Измерения технологических параметров в точном приборостроении [Текст] : материал технической информации / В.М. Богомольный // Метрология. - 2007. - № 7. - С. 16-30. - Библиогр.: 32 назв. Рубрики: Метрология Кл.слова (ненормированные): микроэлектроника -- машино-и приборостроение -- автоматизация -- интегральные схемы Держатели документа: РНТБ

Никитин, А. В.     Использование математического моделирования для измерений наноразмеров в микроэлектронике. [Текст] : материал технической информации / А. В. Никитин // Измерительная техника. - 2011. - № 12. - С. 25-29. - Библиогр.:13 назв. Рубрики: измерения Кл.слова (ненормированные): математическое моделирование -- сканирующая электронная микроскопия -- микроэлектроника -- наноразмер Держатели документа: РНТБ