Левин, Г. Г.     Количественная фазовая микроскопия на основе принципов интерференционной рефрактометрии. [Текст] : материал технической информации / Г.Г. Левин, С.Ю. Золоторевский // Метрология. - 2008. - №3. - С. 15-21. - Библиогр.: 16 назв. Рубрики: Измерения Кл.слова (ненормированные): микро-и нанообъекты -- показатель преломления -- пространственное распределение -- фазовое изображение Держатели документа: РНТБ Доп.точки доступа: Золоторевский, С.Ю.