Корчевский, В. В. Применение численных методов для оценки погрешностей определения параметров кристаллической структуры [Текст] : материал технической информации / В.В. Корчевский // Измерительная техника. - 2006. - №3. - С. 61-64. - Библиогр.: 8 назв. Рубрики: Измерения физико-химические Кл.слова (ненормированные): рентгеновский дифрактометр -- инструментальная погрешность -- эталонные образцы -- угловое положение Держатели документа: РНТБ |
Корчевский, В. В. Применение численных методов для оценки погрешностей определения параметров кристаллической структуры [Текст] : материал технической информации / В.В. Корчевский // Измерительная техника. - 2006. - №3. - С. 61-64. - Библиогр.: 8 назв. Рубрики: Измерения физико-химические Кл.слова (ненормированные): рентгеновский дифрактометр -- инструментальная погрешность -- эталонные образцы -- угловое положение Держатели документа: РНТБ |
Г 47 Гильманшина, Т. Р. Химико-механическая подготовка скрытокристаллического графита к дальнейшей переработке [Текст] / Т. Р. Гильманшина, С. И. Лыткина, В. П. Жереб, Г. А. Королева // Обогащение руд. - 2016. - №2. - С. 14-19 : рис. - Библиогр. в конце ст. 16 назв.
Кл.слова (ненормированные): СКРЫТОКРИСТАЛЛИЧЕСКИй графит -- ХИМИКО-МЕХАНИЧЕСКи активированный графит -- противопригарное покрытие -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫЙ рентгенофазовый анализ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ дифрактометр -- ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНО-термический анализ Держатели документа: Усть-Каменогорск Доп.точки доступа: Лыткина, С.И.; Жереб, В.П.; Королева , Г.А. |