Слободян, М. С.     Вероятный фактор контактных измерений. [Текст] : материал технической информации / М. С. Слободян // Измерительная техника. - 2011. - № 1. - С. 47-50. - Библиогр.: 15 назв. Рубрики: измерение Кл.слова (ненормированные): электрический контакт -- шероховатость поверхности -- вероятностная модель Держатели документа: РНТБ

Епенов, Т. Е.     Участие в сличениях эталонов в области 3 D параметров текстуры поверхности [Текст] / Т. Е. Епенов // Метрология. - 2020. - № 3. - С. 12-15. - Библиогр.: с. 7 назв. Кл.слова (ненормированные): шероховатость поверхности -- сличение -- опорное значение -- эквивалентность эталонов -- неопределенность. Аннотация: Любая, обработанная даже тщательнейшим образом поверхность детали, не может быть полностью идеально ровной. Значение гладкости и ровности поверхности детали в любом случае будет отличаться от заданного чертежом значения, т.е. от номинального значения. Получение параметров поверхности осуществляются профилометрами. Для калибровки профилометров применяются эталонные меры шероховатости (одноштриховые, многоштриховые). С целью оценки калибровочных и измерительных возможностей и установления степени эквивалентности национальных эталонов проводятся сличения эталонов. Держатели документа: РНТБ