Образование трещин и нанометрических пленок по границам зерен при смачивании в системе Cu-Bi [Текст] : материал технической информации / С.А. Гулевский , Н.Б. Костельцева, А.Л. Петелин и др // Известия вузов. Цветная металлургия. - 2005. - №3. - С. 71-76. - Библиогр.: 26 назв. Рубрики: Химическое равновесие Кл.слова (ненормированные): травление -- спектроскопия -- излом Аннотация: Исследование нанометрических пленок по границам зерен в системе Cu-Bi, проведенное с помощью оптической и оже-электронной спектроскопии, показало, что пленка возникает в результате растекания Bi по трещинам, которые образуются при взаимодействии жидкого висмута с границами зерен в меди в отсутствие внешних напряжений. Держатели документа: Усть-Каменогорск Доп.точки доступа: Гулевский , С.А.; Костельцева, Н.Б.; Петелин, А.Л.; Подгорный, Д.А.; Родин, А.О.; Смирнов, А.Н.